太陽(yáng)能電池硅片測(cè)厚儀CHY-G采用機(jī)械接觸式測(cè)量方式，嚴(yán)格符合標(biāo)準(zhǔn)要求，有效保證了測(cè)試的規(guī)范性和準(zhǔn)確性，適用于箔片、硅片的厚度測(cè)試,也稱(chēng)為電池硅片厚度測(cè)量?jī)x、硅片厚度儀和單晶硅片厚度測(cè)定儀等。

硅片厚度試驗(yàn)儀

       太陽(yáng)能電池硅片測(cè)厚儀CHY-G主要參數(shù)

       產(chǎn)品名稱(chēng)：測(cè)厚儀

       測(cè)試范圍：0～5mm

       分辨率：0.1um

       測(cè)量壓力：17.5±1kPa（薄膜）

                         50±1kPa(紙張)

       測(cè)量方式：機(jī)械接觸式

       接觸面積：50mm2（薄膜）

       200mm2 (紙張)；

       外形尺寸：330mm×240mm×420mm

       電源:AC 220V    50Hz

       凈重:10kg

         技術(shù)優(yōu)勢(shì)

        ■七英寸高清觸控屏操作

       ■測(cè)試過(guò)程中測(cè)量頭自動(dòng)升降，有效避免了人為因素造成的系統(tǒng)誤差

       ■嚴(yán)格按照標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)的接觸面積和測(cè)量壓力，同時(shí)支持各種非標(biāo)定制

       ■支持?jǐn)?shù)據(jù)實(shí)時(shí)顯示、自動(dòng)統(tǒng)計(jì)、打印等許多實(shí)用功能

       ■配備微型打印機(jī)，快速打印每次測(cè)量結(jié)果及統(tǒng)計(jì)大小值、平均值

       ■測(cè)試軟件提供測(cè)試結(jié)果圖形統(tǒng)計(jì)分析，準(zhǔn)確直觀地將測(cè)試結(jié)果展示給用戶(hù)

       ■配備標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)接口，方便系統(tǒng)與電腦的外部連接和數(shù)據(jù)傳輸